Udostępnij Udostępnij Udostępnij Udostępnij Print

NI obniża koszty testów produkcyjnych urządzeń bezprzewodowych

-- czwartek, 27 sierpień 2015

NIWeek – Firma National Instruments, dostawca platformowych rozwiązań wspierających inżynierów i naukowców w rozwiązywaniu największych problemów inżynierskich, zaprezentowała dzisiaj system do testowania urządzeń bezprzewodowych NI WTS (Wireless Test System). Jest to rozwiązanie znacznie obniżające koszty testów przy produkcji wielkoseryjnej. Pomimo rosnącej złożoności testów, dzięki zastosowaniu rozwiązania zoptymalizowanego pod kątem szybkości pomiaru i zrównoleglenia testów, producenci mogą śmiało redukować koszty i zwiększać wydajność produkcji.

- Megatrendy, takie jak Internet rzeczy (Internet of Things, IoT), powodują, że w coraz większej liczbie urządzeń znajdujemy moduły RF oraz sensory różnych typów, przez co ich testowanie staje się jeszcze bardziej kosztowne. Nie powinno to jednak hamować innowacyjności i ograniczać efektywności ekonomicznej produktu – powiedziała Olga Shapiro, zarządzająca programem pomiarów i oprzyrządowania w firmie Frost & Sullivan. – Firmy, by pozostać w przyszłości rentownymi, będą musiały przemyśleć sposób testowania urządzeń bezprzewodowych i opracować nowe wzorce. Ze względu na fakt, iż WTS został zbudowany na sprawdzonej w przemyśle platformie PXI i jest wsparty doświadczeniem NI, przewidujemy, że będzie miał znaczący wpływ na opłacalność IoT.”

WTS wykorzystuje najnowsze urządzenia z rodziny PXI, by zaoferować jedną platformę do obsługi wielu standardów, umożliwiającą testowanie wielu obiektów jednocześnie.  Oprogramowanie do sekwencjonowania testów, takie jak TestStand Wireless Test Module, sprawia, że producenci mogą znacznie zwiększyć wykorzystanie sprzętu podczas równoległego testowania wielu urządzeń. WTS można w łatwy sposób zintegrować z linią produkcyjną dzięki dostępności gotowych sekwencji testowych dla urządzeń korzystających z układów scalonych firm, takich jak Qualcomm i Broadcom, a także możliwości zdalnej obsługi testu. Przedstawiona wyżej funkcjonalność zapewni klientom istotny wzrost efektywności stanowisk testowych RF oraz zredukuje koszty testowania.

- Testowaliśmy urządzenia działające w oparciu o kilka technologii bezprzewodowych – począwszy od Bluetooth, poprzez WiFi, a skończywszy na GPS oraz sieciach komórkowych – wszystkiego dokonano na jednym stanowisku, przy zastosowaniu NI Wireless Test System – powiedział Markus Krauss z firmy HARMAN/Becker Automotive Systems GmbH. – Wykorzystanie produktu WTS i doświadczenia firmy NOFFZ w dziedzinie testów RF pomogły nam znacząco obniżyć czas testów oraz czas potrzebny na przygotowanie i uruchomienie systemów testowych.


Przeczytaj także

 

Zobacz także

  •   Wydarzenia  
  •   Katalog  

Wydarzenia

Katalog

CAD-Project
CAD-Project
Stefana Czarnieckiego 35/9
53-626 Wrocław
tel. 717223347

zobacz wszystkie



O nas   |   Reklama   |   Mapa strony   |   Kontakt   |   Polecane strony   |   RSS   |   Partnerzy   |   
Copyright © 2003-2017 Trade Media International
zobacz nasze pozostałe strony
Trade Media International Inżynieria & Utrzymanie Ruchu Control Engineering Polska MSI Polska Inteligentny Budynek Design News Polska Almanach Produkcji w Polsce